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| Technische Broschre (deutsch) | |
| Technischer Katalog |
| EDX 3000 |
| Der EDX3000 vereint unsere jahrelange Erfahrung auf dem Gebiet der
Edelmetallanalyse. Es können nicht nur elementgenaue Massenangaben ausgewertet werden, auch ermöglicht der EDX 3000 die quantitative Bestimmung der Legierungsbestandteile. Die Reinheitsgrade von Gold, Silber, Platin und weiteren Edelmetallen werden mit einer Genauigkeit von bis zu 0.05% bestimmt. Der EDX 3000 arbeitet schnell, zuverlässig und zerstörungsfrei. |
| EDX3000 incorporates Skyray s years of experience in precious metal
testing with its unique product configurations and fully functional
software. Its ergonomically design and friendly software interfaces
grant the users a simple measurement job. |
| Performance characteristics |
|
| Technical Specification |
| Measuring range: | 1ppm - 99,99% |
| Measuring accuracy: | 0,05% |
| Measurement time: | 20-300s |
| Forms of objects: | solid, liquid or powder |
| Detector: | electric-cooling Si-PIN detector |
| Measurable elements: | Potassium (K) - Uranium (U) |
| Energy resolution: | 160eV ± 5eV |
| Tube voltage: | 5-50kV |
| Tube current: | 50-1000 A |
| Temperature range: | 15°C to 30°C |
| Dimensions: | 350 x 500 x 400 mm |
| Weight: | 30 kg |
| Configuration |
| Single sample chamber pin diode semiconductor detector amplifier high voltage power supply X-ray tube |
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